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CdZnTe晶體

CdZnTe晶體是一種閃爍礦結(jié)構(gòu)的連續(xù)固溶體,改變Zn的組分,其晶格常數(shù)在0.6100 -0.6482urn之間連續(xù)可調(diào),與HgCdTe外延膜的晶格匹配性好。有良好的導(dǎo)電性能;較高的吸收系數(shù);溫和的熱膨脹性;

技術(shù)資料

相關(guān)產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱

Cd1-xZnxTe晶體基片

技術(shù)參數(shù)

晶體結(jié)構(gòu):立方晶系

晶格常數(shù):a = 6.483 – 6.446?

密度:5.605g/cm3

熔點:1975℃

熱導(dǎo)率:30W /m.k at 300K

熱膨脹系數(shù):6.5 // a  3.7 // c 10-6/K

透過波長:0.4 ~ 0.6μm                  

產(chǎn)品規(guī)格

常規(guī)晶向:(111)

型號:P型   其中Zn占14%

電阻率:1*10(6)

常規(guī)尺寸:10x10x0.5mm、10x5x0.5mm、5x5x0.5mm

拋光情況:單拋、雙拋

拋光面粗糙度:<15A

注:可按客戶要求定制特殊的方向和尺寸。

晶體缺陷

人工生長單晶都可能存在晶體內(nèi)部缺陷。

標(biāo)準(zhǔn)包裝

1000級超凈室,100級超凈袋或單片盒封裝